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日立 手持式 X-MET8000XRF光谱仪
日立 手持式 X-MET8000XRF光谱仪
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日立 手持式 X-MET8000XRF光谱仪

 详情说明
概况

X-MET8000:快速可靠的法规遵从性筛查。

除了日立的台式分析仪之外,手持式X-MET8000XRF光谱仪还针对许多法规指令 (包括RoHS、CPSIA、ELV和EN71-3)提供快速、无损的筛选。轻便易用的X-MET会在几秒钟内给出结果。

X-MET8000具备的优点:轻巧易用,获取结果只需几秒

应用

手持式XRF光谱仪应用于QA/QC

手持式XRF光谱仪应用于材料可靠性鉴定

手持式XRF光谱仪应用于废旧金属回收

手持式XRF光谱仪应用于采矿

手持式XRF光谱仪应用于土壤重金属检测

手持式XRF光谱仪应用于合规性检测

手持式XRF光谱仪应用于镀层测厚

手持式XRF光谱仪应用于考古

手持式XRF光谱仪应用于贵金属和珠宝检测

-比较型号-

X-MET8000 Expert X-MET8000 Optimum X-MET8000 Smart
X射线管:50kV X射线管:40kV or 50kV X射线管:40kV
滤光片:6位滤光转换器 滤光片:6位滤光转换器 滤光片:单一
检测器:大面积 SDD 检测器:大面积 SDD 检测器:大面积 SDD
最高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选) 最高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选) 最高样本温度:400ºC
符合 IP54 等级 符合 IP54 等级 符合 IP54 等级
Thick Kapton®窗口:保护以预防探测器的窗户损坏 可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护 Thick Kapton®窗口:保护以预防探测器的窗户损坏
校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯) 校准:基本参数法 (包括轻元素分析) 校准:基本参数法(FP)
内置摄像头 内置摄像头 (可选) 内置摄像头 (可选)
小光班准直器(可选) 小光班准直器(可选)
针对所有元素,从镁到铀,的优先分析的六位滤光片 针对所有元素(从镁到铀)进行优先分析的六位滤光片
福驰 • 应用案例
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相关机构相对熟悉和认知一 在国际上具有广泛的知社会些国家级、部级产品质检机构 名...
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