Agilent 5900 SVDV ICP-OES 系统是一种发射光谱仪，专为要求最为严格的高通量实验室而设计。利用该系统，您可以在更短时间内以低于其他任何 ICP-OES 仪器的样品成本获得可靠答案。

凭借创新的自由曲面光学设计与包含众多内置传感器、算法和诊断功能的智能化监控体系，以及针对最大程度提高通量而进行的全面优化，5900 SVDV ICP-OES 可确保让您在竞争中脱颖而出。

采用同步垂直双向观测 (SVDV)，实验室能够以较低成本运行更多样品，该观测模式凭借独特的智能光谱组合技术 (DSC)，可在一次读数过程中同时获得轴向和径向的等离子体观测数据，从而实现高速高效的样品分析，确保复杂基质样品的分析准确度。

使用 5900 ICP OES 随附的集成式高级阀系统 (AVS)，加快分析速度并大大减少氩气用量，同时实现高精度的分析。

在数秒内开始采集数据，无需选择使用 IntelliQuant Screening 分析的元素或波长

使用安捷伦独有的 IntelliQuant 功能，了解有关样品的更多信息。IntelliQuant 能够采集整个波长范围内的数据，识别光谱干扰并为您提供建议，确保您始终获得准确结果。

通过传感器和计数器进行智能仪器状态追踪，并在系统需要维护时为用户提供指导，助您有效缩短停机时间、降低维护成本。

Neb Alert 功能可持续监测雾化器，并在雾化器需要清洁或发生泄漏时提醒您，从而避免时间浪费和故障排除成本。

内置于 ICP Expert 软件的智能算法使方法开发更有据可依，并能实现自动化故障排除，包括：拟合背景校正 (FBC)、快速自动曲线拟合技术 (FACT)、元素间干扰校正 (IEC)、IntelliQuant 和智能冲洗。

利用 ICP Expert Pro 软件提高分析效率和增强质量控制，该软件为用户提供了实时导出到 Microsoft Excel、自定义重复检测、集成的 prepFAST 自动稀释器操作、速率驱动的 QC 以及其他高级软件功能。

独特的智能光谱组合技术

Agilent 5900 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 具有独特的智能光谱组合技术 (DSC) 。DSC 允许从等离子体轴向观测捕获痕量元素发射的光。同时，它还能从等离子体径向观测捕获由典型的较高丰度元素 Na 和 K 发射的光。在一次测量中完成两种观测，并以最快的速率提供准确的结果。

利用 SVDV 模式可消除进行一系列轴向和径向顺序测量以及复杂方法开发的需求。

最大程度缩短停机时间

利用垂直定位的炬管测量总溶解态固体含量高的样品时炬管上的沉积物更少。沉积物更少意味着减少了清洁需求、缩短了停机时间并降低了所需备用炬管的消耗。

同时使用垂直炬管的轴向和径向观测，可以在测量 Na 和 K 等高浓度元素的同时测量痕量元素。

垂直炬管适用于 5800 和 5900 ICP-OES 仪器，该设计能够实现对复杂样品的稳定测定

最大程度降低维护及使用成本

由于 5900 SVDV ICP-OES 只需一次测量即可获得样品中所有观测模式的结果，因此其分析速率比其他任何 ICP-OES 仪器都快。快速测量意味着氩气消耗量更少。而更少的氩气消耗量则意味着成本的降低。

例如，在 5900 仪器的 SVDV 模式下使用 US EPA 200.7 方法测量单个水样需要消耗 20 L 氩气，在 5800 的双向观测模式下则需要 27 L，而竞争对手仪器的氩气消耗量则超过了 40 L。