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Mahr MarSurf M 400粗糙度测量仪
Mahr MarSurf M 400粗糙度测量仪
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Mahr MarSurf M 400粗糙度测量仪

 详情说明
产品特征:

MarSurf M 400.较好的移动设备

测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。

这通常需要更熟练的操作员,更多时间和更多调整工作。

MarSurf M 400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能,而且快速、简单易用。

移动和固定测量仪器

粗糙度和波纹度测量

扫描长度高达 26 mm

超过 50 R,W 和 P 表面参数

根据标准自动选择截止和扫描长度

动态校准功能

驱动装置和评估仪器之间可选有线和蓝牙连接 (4 m)

磁性测头支架(独立测头)BFW 250

机动测头归零设置(最大 7.5 mm)

技术参数:

测量原则

探针法

输入

感应式滑动测头

测量范围 mm

BFW 无导块系统

轮廓分辨率

测量范围 +/- 250 µm:8 nm

测量范围 +/- 25 µm:0.8 nm

过滤器符合 ISO/JIS 标准

ISO 11562 标准高斯滤波

ISO 13565 标准滤波

采样长度数量符合 ISO/JIS

1-5

接触速度

0,2 mm/s; 1,0 mm/s

测量力 (N)

0.75 mN

重量驱动单元

约 0.9 kg

重量测量仪

约 1.0 kg

表面参数

超过 50 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W
轮廓

可选附件

测量立柱:ST-D、ST-F 和 ST-G,测量立柱上的支架

其他附件:CT 120 XY 工作台,平行虎钳,V 形块,用于带 BFW 测头系统的测杆

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